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激光椭偏仪Laser Ellipsometer
采用10.6um或355nm激光光源或其他光源,对被测镜片进行膜层或表面位相延迟的检测,通过物理建模软件,可以进行定量分析,是光学薄膜、激光偏振检测、偏振和位相研究的重要工具。
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